Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов для материаловедения

Характеристики

Артикул	86845
Страна

Все спецификации


Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов для материаловедения.
Программное обеспечение	На носителе для работы с программой
Диапазон измерений линейных размеров	Наличие
Съемка и хранение изображений	Наличие
Съемка панорам по осям XY	Наличие
Сшивка кадров по оси Z (расширенный фокус)	Наличие
Постобработка и редактирование изображений во внутреннем редакторе	Наличие
Проведение ручных и полуавтоматических измерений на изображениях	Наличие
Проведение ручных измерений на видеопотоке	Наличие
Вычисление статистики по проведенным измерениям	Наличие
Экспорт отчетов в удобном формате Word, Excel, PDF, CSV	Наличие
Индивидуальная настройка бланка отчета под каждого пользователя	Наличие
Индивидуальная настройка интерфейса – цвет, размер шрифтов, линий, линеек, масштабных отрезков и др.	Наличие
Сервисное обслуживание	Наличие
ПО является частью средства измерений и внесено в реестр средств измерений	Наличие
ПО внесено в единый реестр российских программ для электронных вычислительных машин и баз данных	Наличие
Источник питания	От USB-порт ПК
Напряжение питания, В	5
Тип тока	Постоянный
Система визуального анализа	Цветная цифровая камера
Тип камеры по цветопередаче	Цветной
Число мегапикселей	21
Максимальное разрешение, пикс	5280×3956
Размер сенсора	4/3"
Размер пикселя, мкм	3,3x3,3
Интерфейс	USB
Версия интерфейса	3.2 Gen2 (Type-C)
Светочувствительность, при 1/30 с, мВ	982.8
Отношение сигнал/шум, дБ	43,9
Время выдержки, нижняя граница, мс	0,1
Время выдержки, верхняя граница, с	15
Возможность записи видео	соответствие
Кадровая частота, кадров в секунду @ при разрешении, пикс	240fps@1760×1318;
Выход	USB 3.2 Gen2 (Type-C)
Программное обеспечение	На носителе для работы с программой
Тип крепления	C-Mount
Конструкция базового аппарата	Инвертированный
Поле изображения	Плоское
Методы исследования	Отраженный свет
Метод контрастирования	Светлое поле
Метод контрастирования	Темное поле
Метод контрастирования	Дифференциально-интерференционный контраст
Метод контрастирования	Поляризация
Кратность увеличения объекта при исследовании на аппарате	50–1500
Встроенная линза дополнительного увеличения, крат	1,5
Длина тубуса	бесконечность (∞)
Визуальная насадка	тринокулярная
Линза Бертрана	Наличие
Деление светового потока, окуляры/канал визуализации	100/0, 50/50, 0/100
Деление света на правом фотопорте	100/0, 20/80
Деление света на левом фотопорте	100/0, 0/100
Тип визуальной насадки	Зидентопф
Угол наклона визуальной насадки	45
Межзрачковое расстояние, нижняя граница, мм	48
Межзрачковое расстояние, верхняя граница граница, мм	78
Посадочный диаметр линз, визуализирующих объект, мм	30
Воспроизводящая часть, обеспечивающая первую ступень увеличения и расположенная после объекта до плоскости изображения аппарата	Наличие
Узел крепления воспроизводящего устройства	6 объективов с ДИК-слотом
Визуализирующая часть включающая, тринокулярную визуальную насадку с наблюдательной системной	Наличие
Линзы, визуализирующей части, крат/поле, мм	Окуляры 10х/23
Коррекцией ±5D на оба окуляра, удаленный зрачок	Наличие
Коррекция объективов	Хроматические абберации, сферические абберации
Комплект объективов, оснащенных специальными флюоритовыми линзами, корректируют искажения для трёх спектральных диапазонов.	Наличие
Комплект объективов, обеспечивающих коррекцию для четырёх и более длин волн	Наличие
Объективы, метод контрастирования	светлое поле и темное поле
Объектив тип 1, крат	5x
Объектив тип 1, апертура	0,15
Объектив тип 1, рабочее расстояние	20
Объектив тип 2, крат	10x
Объектив тип 2, апертура	0,30
Объектив тип 2, рабочее расстояние	11
Объектив тип 3, крат	20х
Объектив тип 3, апертура	0,45
Объектив тип 3, рабочее расстояние	3,1
Объектив тип 4, крат	50x
Объектив тип 4, апертура	0,80
Объектив тип 4, рабочее расстояние	1
Объектив тип 5, крат	100x
Объектив тип 5, апертура	0,90
Объектив тип 5, рабочее расстояние	1
Парфокальная высота, мм	45
Длина тубуса	бесконечность
Предметный столик базового аппарата	Двухкоординатный трехслойный механический, с коаксиальной ручкой перемещения по осям X/Y с низким расположением и возможностью отклонения
Вставки в столик	Наличие
Размер столика, мм	340X230
Максимальная нагрузка, кг	30
Диапазон перемещения столика по осям X и Y, мм	130/85
Механизм фокусировки	Наличие
Рукоятки грубой и тонкой фокусировки	Коаксиальные
Расположение механизма грубой и тонкой фокусировки	С двух сторон
Эргономичная рукоятка тонкой фокусировки с углублениями под пальцы	С правой стороны
Левая рукоятка тонкой фокусировки с нанесенной контрастной шкалой	Наличие
Ход грубой фокусировки, мм	10
Ход тонкой фокусировки, мм/оборот	0,2
Цена деления тонкой фокусировки, мкм	2
Механизм регулировки жесткости грубой фокусировки	Наличие
Механизм блокировки грубой фокусировки	Наличие
Способ освещения	отраженный свет
Осветительная система отраженного света	турель для установки модулей контраста, полевая и апертурная диафрагмы, поляризатор и анализатор; набор светофильтров
Турель для установки модулей контраста	6-ть позиций
Источник отраженного света	Регулируемая галогенная лампа.
Мощность, Вт	100 Вт
Устройство для работы методом дифференциально-интерференционного контраста (ДИК). ДИК-слайдер для объективов 5–20х, ДИК-слайдер для объективов 50–100х	Наличие
ДИК-слайдер для объективов, нижняя граница, крат	5х
ДИК-слайдер для объективов, верхняя граница, крат	20х
ДИК-слайдер для объективов, нижняя граница, крат	50х
ДИК-слайдер для объективов, верхняя граница, крат	100х

Артикул	86845
Страна

Добавить вопрос о "Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов для материаловедения"

Добавить отзыв о "Программно-аппаратный комплекс для исследования образцов для материаловедения"

Рейтинг *

Имя *

E-mail (не будет отображаться на сайте) *

Ваш комментарий *

Файл не выбран

Максимальный размер файла 100 MB. Допустимые форматы: изображения PNG, JPG, GIF, видео MP4, MOV.
Можно загрузить одно фото или выбрать сразу несколько.

Я даю согласие на обработку персональных данных по условиям